Mettre en évidence:
Équipement d'essai 3D-AOI PCBA
, 0Équipement d'essai PCBA de 6 à 6 mm
, Équipement d'essai PCBA de haute précision
taille: |
50 × 50 mm ~ 460 × 510 mm |
Épaisseur: |
0.6 à 6 mm (H) |
Au sommet: |
Caméra industrielle couleur de 1200W |
En bas: |
40 mm |
Côté processus: |
>= 3 mm |
Défectuosité des composants: |
pièces manquantes, décalage, inclinaison, stèle, support latéral, pièces tournantes, pièces incorrec |
Défectuosité de la pâte de soudure: |
plus d'étain, moins d'étain, étain, boule d'étain, soudage virtuel, soudage manquant Position des co |
Tout autour.: |
Caméra d'angle.AOI source lumineuse sphérique intégrante à quatre couleurs, lumière coaxial à bande |
Résolution: |
10um |
Taille de référence principale (mm): |
1280*1680*1580 (W*H*D) |
Poids de référence: |
au sujet de 900KG |
Approvisionnement en gaz: |
0.4-0.7Mpa (électricité pure facultative) |
Énergie: |
Échangeur de courant 220V |
Capacité de remplacement: |
Remplacement rapide des équipements, temps de remplacement <= 1h/personne/unité |
* Forte généralisation, taux de détection élevé, faible taux de fausses alarmes
* Connectivité cloud de bout en bout, prise en charge de la gestion à distance
* Prise en charge du système MES, prise en charge de l'opération hors ligne, prise en charge du débogage en ligne non-stop.
* 0 rapport manquant, plus de 40 stratégies de modèles d'IA de pointe, détection efficace et précise, taux de fausse détection < 1%, technologie d'IA fiable, réduire efficacement les erreurs de jugement des algorithmes
* Temps de programmation < 1 minute, aucune bibliothèque de composants, pour réaliser une véritable programmation en un clic
* 1 milliseconde d'inférence d'algorithme, la vitesse d'inférence est grandement améliorée, l'algorithme du modèle est extrêmement optimisé
* Ne dépend pas de la bibliothèque de l'appareil, complète la détection intelligente de l'appareil; et reconnaît les appareils non inclus dans le CAD ((Information de localisation de l'appareil)):
* par l'apprentissage efficace des caractéristiques globales des dispositifs et des défauts, la génération intelligente de différents dispositifs, les différentes zones de détection,différents types de défauts des indicateurs de décision;
* normalisation de seuils complexes multiples pour la détection de défauts en réglages de seuils de tolérance sans avoir besoin de décrire et de définir les détails du dispositif;Et par l'étude des données statistiques, les suggestions d'ajustement quantitatif du seuil sont données.
* Il n'y a pas besoin d'exigences techniques excessives pour le personnel de programmation, et des remplaçants peuvent travailler à tout moment.
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